Extrémně citlivý přístroj pro povrchovou analýzu metodou rozptylu nízkoenergetických iontů (LEIS) analyzuje prvotní atomovou vrstvu i kvantitativně, vhodné pro vzorky v oboru katalýzy, polovodičů, kovů, polymerů a palivových článků. Pracuje i s analýzou malé oblasti, zobrazováním povrchu a ve statickém či dynamickém hloubkovém profilování.
Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.
Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.
Zeptejte se našich odborníků
