ION-TOF Qtac

Speciální charakterizace povrchu a struktury LEIS - Low Energy Scattering Ions

Extrémně citlivý přístroj pro povrchovou analýzu metodou rozptylu nízkoenergetických iontů (LEIS) analyzuje prvotní atomovou vrstvu i kvantitativně, vhodné pro vzorky v oboru katalýzy, polovodičů, kovů, polymerů a palivových článků. Pracuje i s analýzou malé oblasti, zobrazováním povrchu a ve statickém či dynamickém hloubkovém profilování.

Kvantitativní prvková analýza svrchní atomární vrstvy
TOF filtrace při hloubkovém profilování
Analýza vzorků elektricky nevodivých i s drsným povrchem

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři