Zpět

Speciální charakterizace povrchu a struktury

IONTOF, KRATOS, CAMECA nabízí pokročilé metody analýzy povrchů, struktury materiálů a biomateriálů pomocí unikátních spektroskopických a zobrazovacích metod.

XPS (ESCA)

Rentgenová fotonelektronová spektroskopie (XPS) firmy KRATOS Analytical, také ESCA (elektronová s...

3 přístroje
APT- Atom Probe Tomography

Atom Probe Tomography (APT) je jediná technika analýzy materiálů, která nabízí rozsáhlé možnosti ...

3 přístroje
Time-Of-Flight Hmotová spektroskopie pro povrchovou analýzu

ION-TOF řešení ve všech oblastech SIMS. Nové převratné technologie iontového paprsku a hmotnostní...

3 přístroje
LEIS - Low Energy Scattering Ions

ION-TOF přístroj pro nízkoenergetický rozptyl iontů (LEIS). Kvantitativní elementární charakteriz...

1 přístroj
SPM - mikroskop skanovací sondou a magnetických sil

Vysokovakuová a atmosferická skenovací mikroskopie sondou a magnetických sil.

1 přístroj
Zastoupení výrobci a naši partneři
Specion servis

Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?

Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.

Objednat servis
+420 244 402 091
Volejte pouze PO - PÁ 9 - 17h.