Naše reference

Společnost SPECION, s.r.o. je dodavatelem přístrojů pro nejprogresivnější výzkumné aplikace v oboru materiálových i biologických věd, dále technologií a zkušebních zařízení pro obory budoucnosti jako je farmacie, e-mobilita, úsporná energetika, polovodičový průmysl apod.

Univerzita Pardubice CENMAT

Přístroj: Henniker Plasma HPT-200

Nízkovakuový plazmový systém pro modifikaci povrchů materiálů. Dvojice MFC ventilů umožňuje přesné nastavení poměru procesních plynů.

Univerzita Hradec Králové

Přístroj: Hitachi FlexSem 1000

Nový kompaktní W-SEM včetně EDS pro široké spektrum aplikací jaké požaduje právě univerzitní prostředí, doplněn přípravou vzorku pro biologické materiály od Leica Microsystems a možností korelace obrazu s Ramanským systémem od Horiba Scientific.

CEITEC

Přístroj: Leica THUNDER Imager EM Cryo CLEM

Kryogenní světelný mikroskop pro pozorování zmrazených 3mm sítěk a safírů pro účely korelace a zaměření místa zájmu ve fluorescenčním signálu a následní transfer do cryo EM.

Státní zdravotní ústav

Přístroj: Hitachi HT7800

Moderní 120 kV TEM s digitální přehledovou a hlavní kamerou. V konfiguraci jak pro běžnou klinickou diagnostiku, zejména virů, tak včetně kryogenního držáku vzorku pro zmražené preparáty a EDS. Doplněné o přípravu vzorků Leica Microsystems a světelným mikroskopem taktéž Leica Microsystems pro korelativní mikroskopii (CLEM).

Ústav molekulární genetiky AV ČR v.v.i.

Přístroj: Leica EM ACE900

Specializované zařízení na přípravu biologických preparátů pro účely kryogenní elektronové mikroskopie a pokročilých metod přípravy vzorku s nimi spojené. Laboratoř kompletně vybavena nejmodernějšími metodami přípravy vzorků od Leica Microsystem, jako vysokotlaké zmražování, mražení sítěk v tekutém etanu, cryo CLEM a jiné.

CEITEC nano

Přístroj: Kratos Supra

AXIS SupraTM je rentgenový fotoelektronový spektrometr (XPS) s bezkonkurenční automatizací a snadným použitím pro charakterizaci povrchu materiálů. Patentovaná technologie AXIS zajišťuje vysokou účinnost sběru elektronů v režimu spektroskopie a nízké aberace při velkém zvětšení v režimu paralelního zobrazování.

CEITEC nano

Přístroj: Leica EM TIC3X

Přístroj pro iontové leštění vzorků pro rastrovací elektronovou mikroskopii svazkem lehkých iontů, umožňující vytvářet precizní příčné řezy křehkými, heterogenními, porézními a teplotně citlivými materiály pro jejich studium rastrovací elektronovou mikroskopií a analytickými metodami EBSD, EDS a WDS. Dále přístroj umožňuje iontové leštění velkých ploch při šikmém dopadu iontového svazku pro studium výše uvedených materiálů zmíněnými metodami.