ION-TOF M6

Speciální charakterizace povrchu a struktury Time-Of-Flight Hmotová spektroskopie pro povrchovou analýzu

M6 je nejnovější generací vysokoparametrického TOF-SIMS (Time-Of-Flight SIMS) přístroje. Jeho konstrukce zaručuje vynikající výsledky pro všechny aplikace metody TOF-SIMS. Nový typ technologií iontových svazků a hmotnostní analytiky předurčují M6 jako základní srovnávací referenci pro přístroje SIMS a ideální nástroj pro výzkum akademický i průmyslový.

velké laterální rozlišení <50 nm (Nanoprobe 50) v extrakčním režimu s vysokou transmisí a současně i velké hmotnostní rozlišení
hmotnostní rozlišení >30 000
špičkový dynamický rozsah a nízké detekční limity
jednoduše ovládaný ohřev a chlazení vzorku pro dlouhé experimenty

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři