HORIBA GD-Profiler 2

Pulzní radiofrekvenční optická emisní spektrometrie s doutnavým výbojem (GDOES) je analytická technika, která umožňuje ultrarychlou hloubkovou analýzu prvkového profilu vrstvených materiálů a současně nabízí kvantitativní měření všech prvků a tloušťky s nanometrovým hloubkovým rozlišením. Společně s diferenciální interferometrickou profilací jsou ideálními doprovodnými charakterizačními nástroji pro výzkum materiálů a vývoj procesů. Diferenciální interferometrické profilování umožňuje přímé měření hloubky v závislosti na čase s nanometrickou přesností, které se provádí současně s analýzou GD. Inovativní pulzní RF zdroj umožňuje profilování všech typů pevných vzorků s optimálním výkonem, od prvního nanometru až po více než 150 µm. Lze měřit všechny prvky včetně vodíku, deuteria, lithia, uhlíku, dusíku, kyslíku a dalších.

Výhody:

  • analýza hloubkového profilu prvků
  • pulzní RF zdroj až do 150 µm
  • integrované diferenciální interferometrické profilování
  • ultra rychlé odprašování polymerů
  • příprava povrchů vzorků pro skenovací elektronovou mikroskopii (SEM)
  • detektory s vysokým dynamickým rozsahem

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

J. Tkáč
produktový specialista
+420 602 302 542
tkac@specion.cz
"Potřebujete pomoci se zařízením laboratoře? Mám několikaleté servisní i obchodní zkušenosti v této oblasti a rád Vám pomůžu s výběrem správného vybavení."
Zastoupení výrobci a naši partneři
Specion servis

Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?

Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.

Objednat servis
+420 244 402 091
Volejte pouze PO - PÁ 9 - 17h.