KRATOS AXIS Supra+

Speciální charakterizace povrchu a struktury XPS (ESCA)

AXIS Supra+ je kombinací moderního a pokrokového XPS přístroje s plnou automatizací provozu a obsluhy. Vyniká svými parametry jak ve spektroskopickém režimu, tak v zobrazovacím. Umožňuje doplnit další analytické povrchové metody (Auger, REELS, ISS, UPS) a příslušenství pro úpravy povrchu vzorků.

Vysoce citlivé XPS měření i z velké plochy vzorku včetně lehkých prvků
Vysoká hodnota energiového rozlišení díky RTG Al Kα monochromátoru s 500 mm Rowlandovou kružnicí s garancí pro el. izolanty i vodivé vzorky
Rychlé paralelní zobrazování s rozlišením 1 µm, včetně kvantifikace, a to i pro každý pixel
Kompletní automatizace práce se vzorky, včetně primární optické navigace a při výběru RTG zdroje monoatomárního či klastrů iontů (GCIS)

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři