KRATOS AXIS Nova

Speciální charakterizace povrchu a struktury XPS (ESCA)

AXIS Nova slučuje XPS zobrazování a spektroskopickou analýzu v plně automatickém systému i pro rozměrné vzorky až o průměru 110 mm. Obsahuje stejnou konstrukci RTG optiky jako výzkumný model AXIS Supra+

Vysoce rezoluční XPS analýza při FWHM µ < 0,48eV pro Ag 3d, i z malé oblasti povrchu vzorku o průměru 10 µm
Rychlé prvkové a chemické zobrazování bez nutnosti skenovat povrch vzorku
Neutralizace nabíjení i el. izolujícího vzorku koaxiálním zdrojem nízkoenergetických elektronů bez nutnosti dalšího zdroj Ar+ iontů
Volba options: monoatomární Ar+ či Ar klastrový iontový zdroj (GCIS), a další metody povrchové analýzy – UPS a ISS

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři