ION-TOF VLS-80

Speciální charakterizace povrchu a struktury SPM - mikroskop skanovací sondou a magnetických sil

SPM (Scanning Probe Microscope) v UHV komoře s možností použití externích magnetických polí. Možný režim provozu v ultravysokém vakuu nebo v okolní atmosféře pro standardní SPM metody, navíc pak ochrana měřicího hrotu a profilování povrchu s velkým odstupem.

XY metrologický skener v uzavřené smyčce: 80 x 80 x 10 µm
20-bitové digitální ovládání polohovacího stolku s rozlišením < nm
Polohovací stolek pro vzorek s rozsahem pohybu 100 x 100 x 15 mm
Možnost uplatnění externího magnetického pole + 550 mT kolmo a + 200 mT v rovině

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři