ION-TOF M6 Plus

IONTOF

Informace o chemickém složení, fyzikálních vlastnostech a 3D struktuře povrchu v řádu jednotek nm rozlišení poskytuje kombinace 3D SIMS měření a SPM (Scanning Probe Microscopy). 

  • Simultánní kombinace SIMS/SPM umožnuje sledovat topografické změny povrchu vzorku během experimentu 
  • Všechny standardní režimy SPM: AFM, MFM, KPFM, multifrekvenční
  • Velký rozsah SPM skenování: 80 x 80 x 10 µm (vysoce přesný piezo-stolek)
  • Režim profilometru pro měření celého SIMS kráteru po odprášení povrchu vzorku

 

speach bubbles Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába
A. Gába
produktový specialista
+420 244 402 091
gaba@specion.cz
"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."
Zastoupení výrobci a naši partneři
Servis
Specion servis

Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?

Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.

Objednat servis
+420 244 402 091
Volejte pouze PO - PÁ 9 - 17h.