CAMECA EIKOS UV

Speciální charakterizace povrchu a struktury APT- Atom Probe Tomography

Ekonomická varianta 3D APT tomografie pro kvantitativní měření složení mikrovzorku s rozlišením nm. Nabízí se ve 2 variantách.

Základní na principu reflektronu s pulsním napěťovým režimem
Verze rozšířená i o UV 355 nm laser
Stejná citlivost pro všechny prvky i jejich izotopy
Příprava vzorku pomocí manuální elektro-leštičky, případně pomocí FIB systému

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

A. Gába

produktový specialista

+420 244 402 091

gaba@specion.cz

"V oboru materiálových technologií, studia povrchů a zkoušek v průmyslu se pohybuji několik desetiletí a rád se s vámi poradím o vašich aplikačních potřebách a s našimi špičkovými dodavateli přístrojů jistě najdeme řešení."

Zastoupení výrobci a naši partneři