Hitachi Ethos NX5000

Hitachi

Hitachi Ethos FIB-SEM integruje nejnovější generaci FE-SEM s vynikajícím jasem a stabilitou paprsku. Ethos poskytuje zobrazování ve vysokém rozlišení při nízkém napětí v kombinaci s iontovou optikou pro přesné zpracování vzorků.

Vlastnosti:

  • Vysoce výkonný FE-SEM s režimem duální čočky
  • Vysoká propustnost vzorků za pomocí plné automatizace FIB-SEM
  • Tři svazky pro nejlepší výsledky (Triple-Beam)
  • Vylepšená elektronová optika a detekce více signálů najednou
  • Cut & See pro 3D strukturální analýzu
  • Vysoce kvalitní příprava TEM vzorků pomocí technologie Triple-Beam

 

speach bubbles Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

M. Bačík
M. Bačík
produktový specialista
+420 123 456 789
bacik@specion.cz
“Neváhejte se na mně obrátit, rád Vám pomůžu s dotazy aplikačního, technického i obchodního charakteru.”
Zastoupení výrobci a naši partneři
Servis
Specion servis

Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?

Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.

Objednat servis
+420 244 402 091
Volejte pouze PO - PÁ 9 - 17h.