Hitachi Ethos NX5000

Elektronová mikroskopie Elektronové mikroskopy SEM / FIB-SEM

Hitachi Ethos FIB-SEM integruje nejnovější generaci FE-SEM s vynikajícím jasem a stabilitou paprsku. Ethos poskytuje zobrazování ve vysokém rozlišení při nízkém napětí v kombinaci s iontovou optikou pro přesné zpracování vzorků.

Vlastnosti:

Vysoce výkonný FE-SEM s režimem duální čočky
Vysoká propustnost vzorků za pomocí plné automatizace FIB-SEM
Tři svazky pro nejlepší výsledky (Triple-Beam)
Vylepšená elektronová optika a detekce více signálů najednou
Cut & See pro 3D strukturální analýzu
Vysoce kvalitní příprava TEM vzorků pomocí technologie Triple-Beam

Mám zájem o přístroj Navštívit web výrobce

Zeptejte se našich odborníků

Nevíte přesně co hledat nebo nevíte kde začít? Obraťte se na naše specialisty. Poradí vám ohledně správné volby přístrojů přesně pro vaše účely.

M. Bačík

produktový specialista

+420 123 456 789

bacik@specion.cz

“Neváhejte se na mně obrátit, rád Vám pomůžu s dotazy aplikačního, technického i obchodního charakteru.”

Zastoupení výrobci a naši partneři

Zobrazit více

Specion servis

Potřebujete záruční nebo pozáruční servis?

Nabízíme servisní činnosti na přístrojích. Provedeme instalaci, zaškolení, rekonstrukce a údržbu po celou dobu užívání.

Objednat servis

+420 244 402 091

Volejte pouze PO - PÁ 9 - 17h.